未来已来,高精度检测怎么少得了高精度数显高度计

未来已来,高精度检测怎么少得了高精度数显高度计

3C电子产品中的苹果手机，手机壳的尺寸公差要求不超过20μm，小配件公差则是2μm。

新莽时期我国发明了游标卡尺，比十七世纪的欧洲发明早了1600年。后来出现的千分尺和千分表，精度能够达到0.001mm（1μm），人类对尺寸的度量已经很精细。但是这类量具测量效率低、误差大、可以测量的工件尺寸有限。

随着现代加工的发展，对于精度要求越来越高，如何做好品控，提高产品合格率，提升效率成为头等问题。而这个问题的第一步则是如何确保测量的准确和精度。东野仪器代理的Mikrometry数显高度计采用了高精度传感器和精密导轨，精度稳定、手感顺畅，快速测量时不跳数；显示器采用绿色高亮度数码管，显示清晰，色彩柔和，长时间使用操作者不易疲劳。台架采用陶瓷作为测量基准台，精密耐用。